K Piplits: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (29)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Investigations on the oxidation behavior of technical molybdenum foils by means of secondary-ion mass spectrometry

M. Gritsch, K. Piplits, H. Hutter, P. Wilhartitz, H. Wildner, H.P. Martinz

Журнал:

Surface Science

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 155 KB

english, 2000

2

SIMS analysis of the oxidation behaviour of SiFeCr coated technical refractory metal alloys

M. Gritsch, K. Piplits, H. Hutter, R. Barbist, P. Wilhartitz

Журнал:

Materials and Corrosion/Werkstoffe und Korrosion

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 363 KB

english, 2001

3

Range evaluation in SIMS depth profiles of Er-implantations in silicon

K. Mayerhofer, H. Foisner, K. Piplits, G. Hobler, L. Palmetshofer, H. Hutter

Журнал:

Applied Surface Science

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 259 KB

english, 2005

4

Multiscale approach for the analysis of channeling profile measurements of ion implantation damage

G. Hobler, G. Otto, D. Kovač, L. Palmetshofer, K. Mayerhofer, K. Piplits

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 308 KB

english, 2005

5

Investigations of corrosion phenomena on gold coins with SIMS

K.E. Mayerhofer, K. Piplits, R. Traum, M. Griesser, H. Hutter

Журнал:

Applied Surface Science

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 257 KB

english, 2005

6

Dose-rate dependence of damage formation in Si by N implantation as determined from channeling profile measurements

G. Otto, G. Hobler, L. Palmetshofer, K. Mayerhofer, K. Piplits, H. Hutter

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 270 KB

english, 2006

7

Optical Er-doping of Si during sublimational molecular beam epitaxy

B.A Andreev, A.Yu Andreev, H Ellmer, H Hutter, Z.F Krasil'nik, V.P Kuznetsov, S Lanzerstorfer, L Palmetshofer, K Piplits, R.A Rubtsova, N.S Sokolov, V.B Shmagin, M.V Stepikhova, E.A Uskova

Журнал:

Journal of Crystal Growth

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 113 KB

english, 1999

8

Characterization of carbon-boronnitride-coatings prepared with chemical vapor deposition by auger electron spectroscopy, electron probe microanalysis and secondary ion mass spectrometry

K. Gammer, T. Kolber, K. Piplits, K. Nowikow, X. Tang, R. Haubner, H. Hutter

Журнал:

Thin Solid Films

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 234 KB

english, 2002

9

SIMS: a capable method for BCN quantification

T Kolber, K Piplits, S Dreer, E Mersdorf, R Haubner, H Hutter

Журнал:

Applied Surface Science

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 137 KB

english, 2000

10

Comparison of depth profiles in SIMS by a fuzzy method

Matthias Otto, Gerhard Stingeder, Kurt Piplits, Manfred Grasserbauer, Michael Heinrich

Журнал:

Microchimica Acta

Рік:

1992

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.20 MB

english, 1992

11

Quantitative Analysis of Thin Aluminium-Oxynitride Films by EPMA

Sabine Dreer, Peter Wilhartitz, Edgar Mersdorf, Kurt Piplits, Gernot Friedbacher

Журнал:

Microchimica Acta

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 224 KB

english, 1999

12

Quantitative SIMS depth profiling of diffusion barrier gate-oxynitride structures in TFT-LCDs

Sabine Dreer, Peter Wilhartitz, Kurt Piplits, Karl Mayerhofer, Johann Foisner, Herbert Hutter

Журнал:

Analytical and Bioanalytical Chemistry

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 443 KB

english, 2004

13

Investigation of the synthesis and internal structure of protective oxide layers on high-purity chromium with SIMS scanning techniques

C. Brunner, H. Hutter, K. Piplits, P. Wilhartitz, R. Stroosnijder, M. Grasserbauer

Журнал:

Analytical and Bioanalytical Chemistry

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 303 KB

english, 1997

14

Investigation of non-metallic impurities in High Speed Steel using SIMS imaging and scanning techniques

C. Brunner, H. Hutter, K. Piplits, M. Gritsch, G. Pöckl, M. Grasserbauer

Журнал:

Analytical and Bioanalytical Chemistry

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 347 KB

english, 1998

15

Application of scanning SIMS techniques for the evaluation of the oxidation behavior of high-purity molybdenum

M. Gritsch, C. Brunner, K. Piplits, H. Hutter, P. Wilhartitz, A. Schintlmeister, H. P. Martinz

Журнал:

Analytical and Bioanalytical Chemistry

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 496 KB

english, 1999

16

Quantitative investigation of boron incorporation in polycrystalline CVD diamond films by SIMS

T. Kolber, K. Piplits, R. Haubner, H. Hutter

Журнал:

Analytical and Bioanalytical Chemistry

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 402 KB

english, 1999

17

Accurate Determination of Trace Amounts of Oxygen in CrAlN Hard Coatings by a Combination of WDS–EPMA and SIMS

Sabine Dreer, Peter Wilhartitz, Bernhard Sartory, Richard Tessadri, Kurt Piplits, Karl Emanuel Mayerhofer

Журнал:

Microchimica Acta

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 305 KB

english, 2006

18

Characterization of the Element Distribution Within TiN Coatings with SIMS

Thomas Kolber, Kurt Piplits, Leopold Palmetshofer, Herbert Hutter

Журнал:

Microchimica Acta

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 286 KB

english, 2000

19

Quantitative Sputter Depth Profiling of Silicon- and Aluminium Oxynitride Films

Sabine Dreer, Peter Wilhartitz, Kurt Piplits, Herbert Hutter, Michael Kopnarski, Gernot Friedbacher

Журнал:

Microchimica Acta

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 303 KB

english, 2000

20

Investigations on the Thermal Cycling Stability of SiFeCr Coated NbtZr

Martin Gritsch, Kurt Piplits, Roland Barbist, Peter Wilhartitz, Herbert Hutter

Журнал:

Microchimica Acta

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 199 KB

english, 2000

21

SIMS investigation of MoS2 based sputtercoatings

C Heinisch, K Piplits, F Kubel, A Schintlmeister, E Pflüger, H Hutter

Журнал:

Applied Surface Science

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 183 KB

english, 2001

22

Optically active layers of silicon doped with erbium during sublimation molecular-beam epitaxy

A. Yu. Andreev, B. A. Andreev, M. N. Drozdov, Z. F. Krasil’nik, M. V. Stepikhova, V. B. Shmagin, V. P. Kuznetsov, R. A. Rubtsova, E. A. Uskova, Yu. A. Karpov, H. Ellmer, L. Palmetshofer, K. Piplits, H

Журнал:

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 84 KB

english, 1999

23

Surface analytical investigations of leached potash-lime-silica glass

M. Schreiner, K. Piplits, P. March, G. Stingeder, F. Rauch, M. Grasserbauer

Журнал:

Analytical and Bioanalytical Chemistry

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 192 KB

english, 1989

24

Formation of air stable buried K-fulleride layers by ion implantation

J. Kastner, H. Kuzmany, L. Palmetshofer, K. Piplits

Журнал:

Synthetic Metals

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 194 KB

english, 1995

25

Simultaneous quantitative determination of the distribution of dopants in silicon by high mass resolution secondary ion mass spectrometry

Stingeder, Gerhard., Piplits, Kurt., Gara, Stefan., Grasserbauer, Manfred., Budil, Matthias., Poetzl, Hans.

Журнал:

Analytical Chemistry

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 579 KB

english, 1989

26

Characterization of buried K-fulleride layers formed by ion implantation

Palmetshofer, L., Geretschläger, M., Kastner, J., Kuzmany, H., Piplits, K.

Журнал:

Journal of Applied Physics

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 951 KB

english, 1995

27

[IEEE International Conference on Science and Technology of Synthetic Metals - Seoul, Korea (1994.07.24-1994.07.29)] International Conference on Science and Technology of Synthetic Metals - Thermodynamics of the formation of buried k-fulleride layers by ion implantation

Kastner, J., Palmetshofer, L., Piplits, K., Kuzmany, H.

Рік:

1994

Мова:

english

Файл:

PDF, 108 KB

english, 1994

28

Brown spot corrosion on historic gold coins and medals

Griesser, M., Traum, R., Mayerhofer, K. E., Piplits, K., Denk, R., Winter, H.

Журнал:

Surface Engineering

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 451 KB

english, 2005

29

Bipolar corona discharge-based charge equilibration for nano electrospray gas-phase electrophoretic mobility molecular analysis (nES GEMMA) of bio- and polymer nanoparticles

Weiss, Victor U., Frank, Johannes, Piplits, Kurt, Szymanski, Wladyslaw Witold, Allmaier, Guenter

Журнал:

Analytical Chemistry

Рік:

2020

Файл:

PDF, 1.24 MB

2020